セミナーでは導体損失についての古典的な手法の復習と,それを最近の導体プロセスに適用する場合の問題点,最近の測定手法の研究の成果,さらにそこから次世代の電磁界シミュレータへの期待を紹介します.

場所日時

パシフィコ横浜 2010/12/8(水)〜10(金) 10:00〜17:30

sonnetのブースは一番奥です.


Microwave Workshops and Exhibition 主催者サイト


製品展示

小間番号:E503


スケジュール

今年は,例年の出展社セミナーの他 APMCで米国ソネット社J.Rautioが二件の講演をします.

12/8(水) 12/9(木) 12/10(金)
10:00~ 展示開始
15:30~16:15 MWE出展社セミナー平面回路の導体損失に関する最近の研究動向 予稿 11:30~13:30 展示ブース留守 15:00~15:20 APMC FR3C-4 J.Rautio "The Effect of Dielectric Anisotropy and Metal Surface Roughness"
予稿
16:00~16:25 APMC TH4C-1 J.Rautio "A History of Applied Planar Electromagnetic Analysis"
予稿
~17:30 終了 ~17:00 終了

出展社セミナー: 平面回路の導体損失に関する最近の研究動向

時間:12/8(水) 15:30~16:15
会場:展示ホール内A会場
予約:不要
費用:無料
回路の微細化や,金属微粉末を使った新しい導体形成プロセスにより,高周波回路のパフォーマンスの導体損失への依存性が高まっています.ところが現在でも多くの電磁界シミュレータは導体損失に関して十分な精度の結果を提供できません.それゆえ設計者は製造プロセスの特徴とシミュレータの解析手法の両方を理解し,各製品の導体損失を予測しなければなりません.このセミナーでは,導体損失についての古典的な手法の復習と,それを最近の導体プロセスに適用する場合の問題点,最近の測定手法の研究の成果,さらにそこから次世代の電磁界シミュレータへの期待を紹介します.
予稿


セミナーを聴講してくださった方だけに SonnetLitePlus V12のライセンスを差し上げます. たとえ展示ブースにいらしても、セミナーを受講なさらなかった場合にはライセンスを差し上げることができません.

注意: 当日セミナー会場でライセンス申し込み用紙を差し上げます.一月以内にその用紙にしたがってライセンスを申し込んでください. ライセンスのお申し込みは、セミナーを受講した方ご本人様一回限り有効です. SonnetLitePlus にはサポートやアップグレードサービスはありません.